分析方法能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素數(shù)幾十種元素可同時分析
處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴展存儲最大支持32G，標配2G，可以海量存儲數(shù)據(jù)
含量范圍ppm～99.99%
檢測時間3-30秒
GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng)
檢測對象固體、液體、粉末
探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率最低可達139eV
激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達ppm級
安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存
可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng)
數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計數(shù)率
操作環(huán)境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式光譜儀是目前國內(nèi)較的檢測儀器，應用在很多行業(yè)領(lǐng)域，雖然有很多人曾今使用儀器，但是只限于的技術(shù)人員，普通的人員看到這款儀器還是處于一知半解，那么手持式光譜儀操作的需要注意哪些事項，小編以的角度告訴大家如何使用這款器。 手持式光譜儀對于操作人員是有一定要求的，測試樣品前一定要請儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場演示，并且對技術(shù)人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那么一定會要做放樣檢測，所以，技術(shù)人員還需要做好防輻射。
對于金屬制造行業(yè)來說 ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會引起災難性事故,給企業(yè) 帶來巨大的經(jīng)濟損失。手持合金成分分析儀是檢測金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測人員可以 在完全無損的條件下,每天地檢測上千個金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測 出 完 整 而 準確 的 結(jié) 果 。測試時間是1~2秒,無需制備樣品,從金屬細絲到成品焊點,螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測。
手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小，便攜、方便野外工作，隨時隨地，隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析，設(shè)備無需預熱，可直接測試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點是無損、檢測.手持合金測試儀既可手持1-2秒對樣品進行測試，也能使用座式對樣品進行較長時間的精細測試，10秒即可進行接近實驗室精度的測量，整個檢測過程被測樣品無任何損壞。高清攝像頭檢測更加 內(nèi)置500萬高清晰攝像頭，可以隨時觀察被測樣品的測試位置。
手持式光譜儀如何正確使用 手持式光譜儀在使用的時候，對環(huán)境有一定的要求。不要在潮濕的環(huán)境下工作，環(huán)境濕度0-95%之間為好；不能在高溫下操作工作。這樣，避免各類磁場的干擾，儀器分析的時候才能檢測出更高的精度。所以，大家在工作時候要注意環(huán)境適度，很多時候儀器檢測不標準跟環(huán)境有很大程度上的關(guān)系。 手持式光譜儀對于操作人員有一定要求。測試樣品前，一定要請儀器廠商人員現(xiàn)場演示，并且對技術(shù)人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那么一定會要做放樣檢測，所以，技術(shù)人員還需要做好防。 對手持式光譜儀操作的技術(shù)人員，在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對準需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動開始檢測的時候，技術(shù)人員的手一定不能抖動，否則會影響到檢測的數(shù)據(jù)結(jié)果。 對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔，才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污，或重金屬污染，檢測出來的結(jié)果度沒那么高。 手持式光譜儀的操作看起來很復雜，只需按照技術(shù)人員的指示一步步操作，沒你想的那么復雜了。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學分析方法分析多次校對結(jié)果。
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